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德国PRIMES高功率MSM高亮度HPS-MSM HB

更新:2018-6-5 14:44:52      点击:
  • 品牌:   德国PRIMES
  • 型号:   HPS-MSM HB
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产品介绍
特别适用于高亮度激光器,用高亮度扩展:

高功率MSM高亮度(HP-MSM—HB)可以直接确定SM激光器在焦平面上的功率密度分布,达到10千瓦的平均功率。

多千瓦激光器的焦几何测量

高光束质量和高平均功率的近红外激光越来越多地应用于激光材料加工。利用这些激光器,可以实现在20到100微米的范围内的焦距几何结构。没有已知的材料能够抵抗所产生的功率密度高达GW/cm范围长。在这种辐射水平下,常规的扫描测量技术被排除在外。Primes已经扩展了基于相机的焦点分析系统,MePSOPTION监视器(MSM)由一个专门用于精细聚焦高功率激光器的高亮度选项。

高功率MSM高亮度使高亮度激光器和单模激光器的焦几何测量达到十千瓦的束功率。这使得系统能够直接用工艺参数确定在工艺区内的20千瓦至1000微米范围内的多千瓦激光器的聚焦光束参数。CCD芯片二维地捕获激光束的功率密度分布。测量光学器件尽可能远离由集成气体冲洗引起的污垢污染。

改进的测量特性

高功率MSM高亮度改善测量特性:

单模激光器的Rayleigh长度/KW内焦移<10%

所有三条内束路径的观测平面均优于±1 mm。

在场上凭借其新的系统,Primes正在指导其新的系统在激光和工厂工程师以及最终用户。高功率MSM高亮度可以在新工艺概念的发展开始之前提供支持,通过现有工厂的质量保证,从而确保工艺的可靠性。

 测量方法-原理

高功率MSM高亮度决定了多千瓦激光器的聚焦光束在20微米范围内的光束参数,即使在全功率范围内,也直接在加工区达到一毫米。

为此,95%的激光功率通过分束器传输通过测量光学器件,并被吸收。其余百分之五在测量光学中进一步衰减,并被内部水冷吸收器破坏。一个具有几毫瓦功率的部分光束在CCD传感器上放大成像。

测量光学设计的光束功率高达十千瓦单模。高功率MSM高亮度还配备了一个安全电路,它可以与激光器连接,并在过热或设备故障的情况下中断激光发射。这样,测量装置就不会受到损坏。

高功率MSM高亮度单独测量在50个测量平面的焦点区域中的功率密度分布。焦碱是由这些功率分布组成的。根据每个标准分布ISO 11146(第二力矩和86%功率夹杂)中描述的过程,从每个单独的分布光束,确定诸如光束位置、光束半径和半轴长度的几何形状,以及半轴到设备轴的倾斜。

光束的传输参数如焦点位置、焦半径、瑞利长度、发散度、衍射指数M和光束参数乘积从光束几何数据中被分解。根据ISO 11146的光束的半轴的测量数据确定焦点的椭圆度和像散差。

此外,光束方向误差可以由光纤来确定。随着所描述的焦散线测量,高功率MSM高亮度也允许进行特定平面的功率密度分布的时间行为的检查。

在大约2秒的时间分辨率下,可以观察到激光在工件平面中的行为。

操作

两种可供选择的高功率MSM高亮度操作:

基于PC的激光诊断软件LDS使得可以手动和半自动地测量光束分布并确定光束位置和光束尺寸。

脚本控制高功率MSM高亮度半自动,例如在维修、质量保证和验收检查中重复测量任务。

这两种方案分别适用于当前的测量程序。优点:通过编程用户指导,可以大大降低对高功率MSM高亮度的操作要求。

配件

光纤电缆具有特殊的安装,可以直接从光纤中测量光束的几何形状。适用于LLK-B、LLK-D、QBH和HLC 16的适配器。

采用功率测量的方法,可以直接测量耦合到吸收体中的束流功率。激光诊断软件提供了评价测量结果和监测阈值的选择。

激光诊断软件也允许使用替代的光束半径定义:

第二力矩(标准)

86%功率注入(标准)

狭缝法

刀口法

GA-FIT拟合方法

86%功率密度递减过程

两个具有自由选择功率阈值的幂包含过程

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